OU Portal
Log In
Welcome
Applicants
Z6_60GI02O0O8IDC0QEJUJ26TJDI4
>
Publ3 search
Error:
Javascript is disabled in this browser. This page requires Javascript. Modify your browser's settings to allow Javascript to execute. See your browser's documentation for specific instructions.
{}
Zavřít
Publikační činnost
Probíhá načítání, čekejte prosím...
publicationId :
tempRecordId :
actionDispatchIndex :
navigationBranch :
pageMode :
tabSelected :
isRivValid :
Typ záznamu:
stať ve sborníku (D)
Domácí pracoviště:
Ústav pro výzkum a aplikace fuzzy modelování (94410)
Název:
Image contours detection with deep features and SVM
Citace
Molek, V. Image contours detection with deep features and SVM.
In:
The 10th Conference of the European Society for Fuzzy Logic and Technology (EUSFLAT): Advances in Fuzzy Logic and Technology 2017. Proc. EUSFLAT-2017 (Book series: Advances in Intelligent Systems and Computing) 2017-09-11 Warsaw.
Berlin: Springer Verlag, 2018. s. 546-553. ISBN 978-331966823-9.
Podnázev
Rok vydání:
2018
Obor:
Informatika
Počet stran:
8
Strana od:
546
Strana do:
553
Forma vydání:
Tištená verze
Kód ISBN:
978-331966823-9
Kód ISSN:
2194-5357
Název sborníku:
Advances in Fuzzy Logic and Technology 2017. Proc. EUSFLAT-2017 (Book series: Advances in Intelligent Systems and Computing)
Sborník:
Mezinárodní
Název nakladatele:
Springer Verlag
Místo vydání:
Berlin
Stát vydání:
Sborník vydaný v zahraničí
Název konference:
The 10th Conference of the European Society for Fuzzy Logic and Technology (EUSFLAT)
Místo konání konference:
Warsaw
Datum zahájení konference:
Typ akce podle státní
příslušnosti účastníků:
Celosvětová akce
Kód UT WoS:
000432807900048
EID:
2-s2.0-85029438252
Klíčová slova anglicky:
SVM; features extraction; deep learning; convolutional neural network; image contours detection; classification;
Popis v původním jazyce:
This contribution introduces the image contours detection based on the features extracted by a deep convolutional neural network. Popular pre-trained network VGG19 was used to extract 5504 different features for each input image pixel and then classified by a neural network with SVM classifier.
Popis v anglickém jazyce:
Seznam ohlasů
Ohlas
R01:
RIV/61988987:17610/18:A1901NAY
Complementary Content
Deferred Modules
${title}
${badge}
${loading}
Deferred Modules
Probíhá načítání, čekejte prosím...