OU Portal
Log In
Welcome
Applicants
Z6_60GI02O0O8IDC0QEJUJ26TJDI4
Error:
Javascript is disabled in this browser. This page requires Javascript. Modify your browser's settings to allow Javascript to execute. See your browser's documentation for specific instructions.
{}
Zavřít
Publikační činnost
Probíhá načítání, čekejte prosím...
publicationId :
tempRecordId :
actionDispatchIndex :
navigationBranch :
pageMode :
tabSelected :
isRivValid :
Typ záznamu:
stať ve sborníku (D)
Domácí pracoviště:
Katedra informatiky a počítačů (31400)
Název:
The logical model for pattern representation
Citace
Telnarová, Z. a Schenk, J. The logical model for pattern representation.
In:
ICNAAM 2015: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NUMERICAL ANALYSIS AND APPLIED MATHEMATICS 2014 (ICNAAM-2015) 2015-09-22 Rhodes, Greece.
NY, USA: American Institute of Physics Inc., 2016. s. 1200091-1200094. ISBN 978-0-7354-1392-4.
Podnázev
Rok vydání:
2016
Obor:
Informatika
Počet stran:
4
Strana od:
1200091
Strana do:
1200094
Forma vydání:
Elektronická verze
Kód ISBN:
978-0-7354-1392-4
Kód ISSN:
0094-243X
Název sborníku:
PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NUMERICAL ANALYSIS AND APPLIED MATHEMATICS 2014 (ICNAAM-2015)
Sborník:
Mezinárodní
Název nakladatele:
American Institute of Physics Inc.
Místo vydání:
NY, USA
Stát vydání:
Sborník vydaný v zahraničí
Název konference:
ICNAAM 2015
Místo konání konference:
Rhodes, Greece
Datum zahájení konference:
Typ akce podle státní
příslušnosti účastníků akce:
Evropská akce
Kód UT WoS:
000380803300138
EID:
2-s2.0-84984584241
Klíčová slova anglicky:
Association Rule; Cluster; Oracle; pattern; Pattern type
Popis v původním jazyce:
Patterns are mentioned usually in the extraction context. Little stress is posed in their representation and management. This paper is focused on representation of the patterns, manipulation with patterns and query patterns. Crucial issue can be seen in systematic approach to pattern management and specific pattern query language which takes into consideration semantics of patterns.
Popis v anglickém jazyce:
Seznam ohlasů
Ohlas
R01:
RIV/61988987:17310/16:A1701HU3
Complementary Content
Deferred Modules
${title}
${badge}
${loading}
Deferred Modules